上海昊量光電設(shè)備有限公司
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詳細摘要： 穆勒矩陣測量系統(tǒng)高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng)150XT型穆勒矩陣是公司研發(fā)的一款高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng)，在不到一秒內(nèi)即可實時測得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-16 在線留言
詳細摘要： 納米表面輪廓儀IMOS納米表面輪廓儀實現(xiàn)了精確、定量、iso兼容、非接觸式表面測量和表征微和納米尺度的表面特征，在短短幾秒鐘內(nèi)可捕獲多達200萬個數(shù)據(jù)點
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 全自動應變儀LSM-9000LE是一款用于定量測量透明體內(nèi)延遲量的應變和雙折射以及慢軸的方向的二維裝置
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 沖壓工藝應變分析儀AutoGrid®comsmart通過應變分析保證金屬深拉伸工藝質(zhì)量沖壓應變分析儀已成為檢測金屬深拉伸工藝的重要的一部分
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 150AT全自動測量系統(tǒng)全自動應力雙折射測量系統(tǒng)150AT應力雙折射系統(tǒng)是應力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 不規(guī)則非球面光學元件應力分布測量系統(tǒng)（透鏡測量等）不規(guī)則非球面光學元件（光刻機透鏡等）應力分布測量系統(tǒng)利用調(diào)制器技術(shù)，公司的測量系統(tǒng)可以在深紫外（193nm）波...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 光伏硅錠殘余應力測量儀光伏硅錠應力檢測越早越好在光伏行業(yè)/半導體行業(yè)中，硅片的制作中，如果硅錠在生長中有著很強的殘余應力，切片時會很容易造成碎裂，所以對硅錠中應...
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詳細摘要： 大型液晶面板高精度分布測量系統(tǒng)大尺寸，高精度液晶基板應力分布測量!公司的大尺寸高精應力雙折射分布測量系統(tǒng)專用于LED液晶玻璃基板的應力分布測量
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 性系數(shù)測量儀光彈性系數(shù)是材料的特性常數(shù)主要是透明材料在受力后，會出現(xiàn)各項異性產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象
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詳細摘要： 雙折射顯微成像系統(tǒng)生物組織/材料雙折射分布顯微成像系統(tǒng)（基于穆勒矩陣的偏振顯微鏡）公司的MicroImager偏振顯微/雙折射顯微成像系統(tǒng)是一款基于穆勒矩陣的偏...
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詳細摘要： CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 法布里-珀羅光纖法布里-珀涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計
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詳細摘要： XperWLI白光XperWLI是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器
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詳細摘要： KALEOMultiWAVE多波長動態(tài)【KALEOMultiWAVE簡介】在光學計量領(lǐng)域持續(xù)創(chuàng)新，推出能夠兼顧測量透射誤差和反射波前誤差（TWE/RWE）的革命...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： OPTIPHASE是一家高性能干涉系統(tǒng)的供應商，提供用于精密測試和測量儀器以及傳感系統(tǒng)的光纖
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 皮米級距離測量（可試用）昊量光電推出的皮米級距離干涉測量儀quDIS是目前市面上同類別可以測量皮米級距離的干涉儀
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 激光振動傳感器集成化/一體化光學技術(shù)昊量光電全新推出的激光振動傳感器光學元件集成化可以實現(xiàn)更加復雜的設(shè)計和更多的功能
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： Mprobe20單點薄膜測量儀MProbe20是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統(tǒng)，只需點擊鼠標就可進行薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）基于MProbe20平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： 微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE40MSPMProbe40測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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